532nm, 1064nm ファイバーレーザー｜量子研究, 粒子解析, 半導体検査に最適
532nm, 1064nm 超低ノイズ・単一周波数ファイバーレーザー
Cobolt社 Ampheia
Ampheia™シリーズは、高出力ファイバーレーザーシステムの製品群であり、1064 nmで最大50W、532 nmで最大5Wの出力を、完璧なビーム品質とともに実現します。
本シリーズは、超低相対強度ノイズ（RIN）と単一周波数動作を特徴とし、シードレーザーおよびビームデリバリーヘッドを内蔵したファイバーアンプ構成として提供されます。卓越したレーザー性能を備えつつ、コストパフォーマンスにも優れたオールインワンのレーザーシステムです。
確立された製造プロセスに基づいて構築されており、高い信頼性が保証されているため、研究用の単体使用にも、OEMシステムへの組み込みにも適しています。
Ampheia™シリーズは、量子技術における原子トラッピング、レーザーポンピング、粒子解析、半導体検査など、幅広い用途に対応します。
カタログダウンロード：
- Ampheia
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主な特長
特徴
- 1064nmで最大50W、532nmで最大5WのCW単一周波数出力
- 超低相対強度ノイズ（RIN）と完璧なビーム品質
- シードレーザー内蔵のシングルステージファイバーアンプ構成
- 高い光信号対雑音比（OSNR > 70 dB）
- 堅牢でメンテナンスフリー
- 簡単な設置とユーザーフレンドリーなインターフェース
応用例
- 量子研究
- 光ピンセット
- レーザー励起
- 粒子解析
- 光学計測
- 半導体検査
- ホログラフィー
仕様
| パラメータ | Ampheia-LS | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 波長 | 532±0.3nm | 1064±0.6nm | |||
| 選択可能な出力レベル | 5W | 20W | 40W | 50W | |
| 出力レンジ | 1%-100% | 5%-100% | 2.5%-100% | 2%-100% | |
| スペクトル線幅(FWHM, 1ms) | <100kHz | <50kHz | |||
| 光信号対雑音比（OSNR） | >70dB | ||||
| 波長安定性(±2℃, 8時間) | <1pm | ||||
| 出力安定性(±2℃, 8時間) | <0.5% | ||||
| ノイズ, 100Hz-10MHz(rms) | <0.05% | ||||
| 相対強度ノイズ(RIN) | 10Hz-1kHz | <-110dB/Hz | |||
| 1kHz-100kHz | <-125dB/Hz | <-130dB/Hz | |||
| 100kHz-1MHz | <-130dB/Hz | <-140dB/Hz | |||
| 開口部でのビーム径 | 1.0±0.2nm | ||||
| 開口部でのビーム対称性 | >0.90:1 | ||||
| 空間モード(TEM00) | TEM00(M²<1.05) | ||||
| ビーム拡がり角(全角) | <1.7mrad | ||||
| ビーム指向安定性 | <5µrad/°C | ||||
| 偏光消光比(直線, 垂直) | >1000:1 (>30dB) | ||||
| ファイバーケーブル長 | 1.5m | 1.2m | 1.0m | ||
波長別仕様
532nm, 1064nm ファイバーレーザー｜量子研究, 粒子解析, 半導体検査に最適のテクニカルノート
アプリケーション
- ホログラフィー
- ラマン分光
- 顕微鏡法
- フローサイトメーター
- 微粒子測定
- レーザ干渉計測
- DNAシーケンサー
- イオントラップ
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